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一种面向故障隔离的测试向量优化方法

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【作者】 蒋觉义李璠李建宏

【Author】 Jiang Jueyi;Li Fan;Li Jianhong;AVIC China Areo-Polytechnology Establishment;The 6th Research Institute of China Electronics Corporation;

【机构】 中国航空综合技术研究所中国电子信息产业集团有限公司第六研究所

【摘要】 为提高基于测试性模型的故障诊断效率、缩短故障隔离时间,提出了一种测试向量的优化方法。针对D矩阵中的每个故障模式的准确检测与隔离需求,给出了其测试向量优化的详细计算步骤,得到综合考虑测试数量最少和计算测试向量时间最短的测试向量。仿真数据和实例数据的实验结果表明,该方法具备计算速度快、优化效果好的特点,适用于大规模D矩阵场合,可有效支撑复杂系统的故障诊断与隔离设计。

【关键词】 测试向量测试性建模故障隔离
【所属期刊栏目】 计算机技术与应用 (2018年09期)
  • 【DOI】10.16157/j.issn.0258-7998.174794
  • 【分类号】E92
  • 【下载频次】51
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