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SF2-1型双通道声发射仪的研制(一)

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【作者】 王焕忠张学文朱维芳

【机构】 机械工业部通用机械研究所机械工业部通用机械研究所

【摘要】 <正> 单通道声发射测定仪只能用来测定试样或结构件中裂纹发生、发展的规律,无法确定裂纹发生的位置。双通道声发射仪既可用于研究裂纹发生发展的规律,也可实时确定裂纹发生的位置,并作出位置的分布图。在国外,双通道声发射仪已有定型产品投入市场。如美国的DUNEGAN/ENDVCO公司的3000系列、AET公司的5000系列,日本NF公司的AE900系列等。在国内,虽能生产双通道仪器,但不能实时确定裂纹位置,更不能提供声发射源位置的分布图。我们研制成功的SF2-1型双通道声发射测定仪,采用微处理机作实时数据处理,在一

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