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密集环境下无源超高频系统RFID标签识别性能研究

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【作者】 燕怒李达韩冬桂刘芳肖梦帆彭亚文

【Author】 YAN Nu;LI Da;HAN Donggui;LIU Fang;XIAO Mengfang;PENG Yawen;College of Mechanical Engineering & Automation,Wuhan Textile University;

【机构】 武汉纺织大学机械工程与自动化学院

【摘要】 密集环境中标签间互耦效应会对标签识别性能产生重要影响。该文以密集环境下超高频射频识别系统中的无源双标签为研究对象,基于天线散射理论并利用高频电磁场仿真软件HFSS分析不同标签间距下互耦模型的输入阻抗,以及标签天线在不同负载条件下的单站雷达散射截面RCS,得到密集环境下标签天线的最大识别距离,并通过实验验证了计算结果。研究结果将有助于优化标签天线设计,提高密集环境下的标签识别性能。

【基金】 湖北省教育厅优秀中青年科技创新团队计划项目(T201607);国家自然科学基金面上项目资助(51775388)~~
【所属期刊栏目】 电子与信息器件 (2019年14期)
  • 【DOI】10.16652/j.issn.1004-373x.2019.14.005
  • 【分类号】TP391.44
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