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X射线荧光光谱分析技术在大理岩鉴定与分类中的应用

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【作者】 迟广成伍月王海娇陈英丽王大千

【Author】 CHI Guang-cheng;WU Yue;WANG Hai-jiao;CHEN Ying-li;WANG Da-qian;Shenyang Geological Survey Center,China Geological Survey;

【机构】 中国地质调查局沈阳地质调查中心

【摘要】 大理岩的鉴定与分类主要依靠岩石薄片鉴定及X射线衍射(XRD)矿物半定量检测技术。工作中发现,岩石薄片鉴定技术及XRD矿物半定量检测技术所测得矿物组分含量很少一致,这就需要引入其他技术对岩石薄片鉴定及XRD矿物半定量检测结果加以验证。本文利用X射线荧光光谱仪(XRF)对野外采集的32件大理岩样品进行全岩化学成分分析,以岩石化学成分为基础,分析岩石杂质系数、镁质系数和钙质系数特征,对大理岩进行分类。结果表明:方解石大理岩、白云石大理岩、菱镁矿大理岩的镁质系数值分别为0.010.13、0.400.46、0.970.98,钙质系数值分别为0.780.84、0.300.49和0.010.02,不同类型大理岩的钙质系数和镁质系数明显不同,可以作为划分大理岩类型的主要依据。当岩石中SiO2+Al2O3含量大于35%(杂质系数大于为1.20),不能定为大理岩,只有岩石中SiO2+Al2O3含量小于30%(杂质系数小于1.00)时,可定为大理岩。杂质系数、镁质系数和钙质系数的应用,能够校正岩石薄片鉴定法及XRD矿物半定量法矿物含量检测不一致的问题,使大理岩分类定名更加准确。

【基金】 国土资源部“变质岩岩石矿物鉴定检测技术方法研究”课题(201011029-3)
【所属期刊栏目】 岩石矿物分析 (2018年01期)
  • 【DOI】10.15898/j.cnki.11-2131/td.201611300176
  • 【分类号】O657.34;P588.313
  • 【下载频次】106
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