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膜去溶-电感耦合等离子体质谱法测定环境地质样品中的镉

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【作者】 王岚杨丽芳谭西早武朝辉

【Author】 WANG Lan;YANG Li-fang;TAN Xi-zao;WU Zhao-hui;State Nuclear Security Technology Center;

【机构】 国家核安保技术中心

【摘要】 应用电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)分析环境地质样品中的Cd时,Zr、Mo元素的氧化物和氢氧化物会对Cd造成严重干扰,导致结果有明显的偏差。针对此问题,本文建立了膜去溶-ICP-MS直接测定环境地质样品中微量Cd的分析方法,该方法可有效地消除Zr、Mo氧化物和氢氧化物对Cd的干扰,保证结果准确、可靠。膜去溶-ICP-MS相比于常规ICP-MS测定Cd的方法,可将Zr、Mo氧化物和氢氧化物对Cd的干扰降低到0.001%,检测灵敏度提高3.5倍左右。在给定条件下,Cd的检出限为0.28 ng/L,测定下限为2.2 ng/L,精密度(RSD,n=12)为2.2%。利用该方法分析20种岩石、土壤和沉积物国家标准物质的测定值与标准值相符,表明膜去溶-ICP-MS法直接测定环境地质样品中痕量或超痕量Cd时具有一定的应用潜力。同时,用该方法对2016年中核集团组织的实验室间两个比对样品中的Cd进行测定,稳健Z比分数分别为0.500和-0.964,Z的绝对值都小于2。

【基金】 中国地质调查局地质调查项目(DD20160095)
【所属期刊栏目】 岩石矿物分析 (2017年06期)
  • 【DOI】10.15898/j.cnki.11-2131/td.201703130032
  • 【分类号】O657.63;X830
  • 【下载频次】45
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