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退化过程建模及药品货架寿命预测

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【作者】 周真李翰斌齐佳马德仲

【Author】 ZHOU Zhen;LI Han-bin;QI Jia;MA De-zhong;School of Measurement-control Technology and Communications Engineering, Harbin University of Science and Technology;Higher Educational Key Laboratory for Measuring and Control Technology and Instrumentations of Heilongjiang Province;

【通讯作者】 周真;

【机构】 哈尔滨理工大学测控技术与通信工程学院测控技术与仪器黑龙江省高校重点实验室

【摘要】 药品货架寿命的有效预测是药品安全管理的关键问题。针对传统的退化过程建模不能考虑同批产品中个体差异的问题,提出一种有效融合先验退化数据和现场退化数据的方法,可对单片药品及新药品进行货架寿命预测。依据先验信息确定模型的参数,引入Bayes融合现场退化数据进行参数更新,在此基础上对单片药品进行货架寿命预测。结果表明,瓶装和片装的五号药片的货架寿命预测值分别为43.95周和47.47周,与试验值的相对误差分别为0.043和0.051。验证了利用融合现场退化数据对单片药品及新药品货架寿命预测方法的可行性。

【关键词】 退化模型货架寿命Bayes理论药品
【基金】 黑龙江省自然科学基金(F201305)
  • 【DOI】10.15938/j.jhust.2019.01.009
  • 【分类号】R95
  • 【下载频次】24
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