网络首发时间:2018-10-25 17:06:59

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基于DR技术的GIS设备内部绝缘缺陷检测

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【作者】 黄烜城黄涛洪荃沂朱宇萌王万浩赵煦

【机构】 江苏方天电力技术有限公司西安市铁一中学江苏联能电力科学研究院有限公司

【摘要】 气体绝缘全封闭组合电器(GIS)设备内部缺陷严重威胁电力系统安全运行,数字化X射线成像(DR)检测技术可实现GIS设备内部结构的可视化诊断,为设备故障诊断提供有力的技术支持。本文根据材料透射强度比可表征不同材料X射线吸收率差异特性的原理,采用材料密度和原子序数计算得到材料透射强度比,分析了DR检测技术对GIS设备各种典型缺陷检测的可行性和有效性,试验研究了施加电压对采用DR技术检测GIS内部绝缘缺陷有效性及成像情况的影响。最后对某220 kV GIS设备进行DR检测,验证了DR技术用于检测GIS内部绝缘缺陷及对缺陷进行初步判断有效可行。

【关键词】 GISDR检测可视化局部放电X射线典型缺陷故障诊断
  • 【DOI】10.19666/j.rlfd.201802070
  • 【分类号】TM595
  • 【下载频次】32

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