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基于模式识别的米粒形状分析

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【作者】 张双德周龙胡涛

【机构】 武汉工业学院电气信息工程系

【摘要】 将获取的米粒彩色图像通过图像的灰度化、二值化及轮廓提取等预处理,使之便于计算米粒的长、宽和面积,并利用模板匹配分析法分析得到米粒的匹配度,可用于衡量不完善粒所占的比率。

【关键词】 米粒图像处理二值化形状分析
【所属期刊栏目】 农业信息 (2009年02期)
  • 【DOI】10.13989/j.cnki.0517-6611.2009.02.156
  • 【分类号】TP391.41
  • 【被引频次】6
  • 【下载频次】182
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