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X射线衍射法测定表面膜厚度的新公式及其误差分析

种克端袁书强乔玉泉

五二研究所

摘要:本文概述了X射线衍射法测厚中诸方法的本质差别,给出各种方法的确切命名,并提出了合理的分类;为表面膜多级衍射法推导出了简明的测厚公式,大大简化了数据处理过程;运用微分原理和统计学原理求得了相对误差公式,指明了该方法误差的主要来源,并可按误差要求预先推算出可测的最大和最小厚度及合理选用实验参数。以铝箔,镍箔和镀金膜作了实试验证,获得满意结果。
  • DOI:

    10.14024/j.cnki.1004-244x.1987.06.009

  • 专辑:

    理工B(化学化工冶金环境矿业); 理工C(机电航空交通水利建筑能源)

  • 专题:

    金属学及金属工艺

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