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工业CT工艺参数选择对小缺陷尺寸测量的影响

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【作者】 付康倪培君齐子诚郭智敏唐盛明

【Author】 FU Kang;NI Peijun;QI Zicheng;GUO Zhimin;TANG Shengming;Ningbo Branch of Chinese Academy of Ordnance Science;

【机构】 中国兵器科学研究院宁波分院

【摘要】 小缺陷的识别与测量是工业CT工程应用中的难点之一。工业CT工艺参数的选择是影响断层扫描图像质量的重要因素。对于小缺陷的检测来说,细节特征的识别和测量精度与切片厚度、微动次数以及触发次数等工艺参数有直接关系。以6 MeV线阵高能工业CT为例,通过理论分析和试验研究各工艺参数对小缺陷测量精度的影响,得出特定条件下的最佳工艺参数,最终给出小缺陷检测时工艺参数的选择方法,为工业CT工程应用中的缺陷检测和工艺卡的编写提供指导和借鉴。

【关键词】 工业CT工艺参数小缺陷测量精度
【基金】 国家自然科学基金(61471411);浙江省自然科学基金(LQ15E010003);宁波市自然科学基金(2016A610247);宁波国际科技合作项目(2015D10005)
【所属期刊栏目】 理化检测、失效分析 (2018年01期)
  • 【DOI】10.14024/j.cnki.1004-244x.20171208.001
  • 【分类号】TG115.28
  • 【被引频次】2
  • 【下载频次】186
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