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β-Sn与4H-SiC界面性质的第一性原理计算

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【作者】 马志鹏李昊宣张茗瑄许志武

【Author】 MA Zhipeng;LI Haoxuan;ZHANG Mingxuan;XU Zhiwu;Department of Materials Science and Engineering,Northeast Petroleum University;State Key Laboratory of Advanced Welding and Joining,Harbin Institute of Technology;

【机构】 东北石油大学材料科学与工程系哈尔滨工业大学先进焊接与连接国家重点实验室

【摘要】 为研究金属钎料与SiC陶瓷的界面结合方式,采用基于密度泛函理论的第一性原理方法,对Sn(001)/4H-SiC(0001)界面进行几何优化,得到优化后界面体系的结构,从分离功表征结合强度以及电子结构布居分析的角度解释界面结合本质和键合方式。结果表明:SiC陶瓷中C封端界面的分离功高于Si封端界面的分离功,Sn原子与C原子间形成的离子共价键在界面结合的成键中占有主要的地位。

【关键词】 SiC陶瓷Sn基钎料界面电子结构第一性原理
【基金】 国家自然科学基金(51674090)
【所属期刊栏目】 试验研究 (2019年03期)
  • 【DOI】10.14024/j.cnki.1004-244x.20190402.002
  • 【分类号】TQ174.1
  • 【被引频次】1
  • 【下载频次】218
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