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基于区域生长法的QFP芯片引脚缺陷检测算法

陈广锋王琳霞席伟周敏飞

东华大学机械工程学院

摘要:为降低贴片机的废品率,提出了基于机器视觉的小型方块平面封装(quad flat package,QFP)芯片引脚缺陷检测算法,以在贴装前对芯片的引脚进行质量检测。利用区域生长法获取引脚的总数及各个引脚主体部分的形心坐标及面积。通过与实际引脚总数进行对比,判断是否存在引脚缺失的缺陷,并和实际引脚的间距、面积的设定值进行对比,当测定值超过设定值一定范围时,认为该芯片存在引脚位置偏移以及高度偏移等缺陷,从而吸取新的芯片进行判断,实现持续自动的测试。测试结果表明,该方法具有检测速度快、误检率低的优点,可以较好地满足生产工艺要求。
  • 专辑:

    理工B(化学化工冶金环境矿业); 电子技术及信息科学

  • 专题:

    无线电电子学; 计算机软件及计算机应用

  • 分类号:

    TP391.41;TN405

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