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基于密度泛函理论的外电场下c-C4F8的结构及其特性

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【作者】 李亚莎孙林翔梅益明周筱谢云龙

【Author】 LI Ya-sha;SUN Lin-xiang;MEI Yi-ming;ZHOU Xiao;XIE Yun-long;College of Electrical and New Energy, China Three Gorge University;

【通讯作者】 李亚莎;

【机构】 三峡大学电气与新能源学院

【摘要】 采用密度泛函理论CAM-B3LYP/DGDZVP2对c-C4F8进行优化计算,得到基态分子结构.在该结构基础上施加线性外电场(0~10.284 V·pm-1),获得了c-C4F8的几何特性、能量、前线轨道能级、键能和红外光谱数据.结果表明:当电场沿x轴变大时,c-C4F8的点群从D2d变为C1,偶极矩和极化率不断增大,结构稳定性降低;分子总能量和能隙不断减小,且C(4)—F(10)键的键能降低速度最快,最有可能率先在外电场作用下断裂,导致c-C4F8结构和对称性被破坏.同时c-C4F8的绝热电子亲和能单调上升,分子吸收自由电子的能力增强;红外光谱中,吸收峰的个数增加,4个主要吸收峰发生了红移.

【关键词】 c-C4F8外电场绝热电子亲和能红外光谱
【基金】 国家自然科学基金资助项目(51577105)
【所属期刊栏目】 研究论文 (2020年02期)
  • 【DOI】10.13563/j.cnki.jmolsci.2020.02.007
  • 【分类号】TM213
  • 【下载频次】65
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