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光学干涉在二次电光系数测量中的应用与分析

田浩周忠祥王晓鸥宫德维霍雷张宇

哈尔滨工业大学物理系

摘要:为了更加深入地掌握光学干涉原理以及晶体材料的电光效应,我们搭建了利用干涉原理的典型光学系统——马赫-曾德尔电光系数干涉测量系统.首先,结合光学干涉原理和晶体材料的二次电光效应,进行了详细的理论推导,证明了测量方法的正确性和可行性.之后,以钽铌酸钾钠(KNTN)晶体作为研究对象,在实验中测量得到了其二次电光系数s11为2.28×10-15 m2·V-2.在此过程中,通过对马赫-曾德尔光学干涉测量系统的理论剖析与实际应用,相信可以帮助同学们更深入地理解和掌握光学干涉、晶体折射率及其电光效应的本质与原理.
  • 专辑:

    理工A(数学物理力学天地生)

  • 专题:

    物理学

  • 分类号:

    O436.1

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