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应用X-射线能谱微区分析法测定核桃种皮与子叶的元素含量

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【作者】 周劲松

【Author】 Zhou Jingsong (Agricultural and Animal Husbandry College,Qinghai Uni versity,Xining,Qinghai810003China)

【机构】 青海大学农牧学院 青海西宁810003

【摘要】 应用X-射线能谱微区分析法测定核桃种皮与子叶的元素含量。结果显示:核桃种子不同组织中共发现Mg、Al、Si、P、S、Cl、K、Ca、Fe九种元素。不同组织各元素分布含量有差异。子叶内层组织中S、K、P丰富,而子叶外层组织中K、Ca含量较丰富。各组织中K含量均较高。

  • 【分类号】S664.1
  • 【被引频次】9
  • 【下载频次】157
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