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夏橙果实离层中伤害诱导基因的克隆与表达分析

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【作者】 杨雪莲张凌云王志卫黄勇闫树堂钟广炎

【Author】 YANG Xue-lian1,3,ZHANG Ling-yun1,WANG Zhi-wei1,HUANG Yong1,YAN Shu-tang1,2,ZHONG Guang-yan1,2 (1Southwest University,Beibei,Chongqing 400715 China;2Citrus Research Institute,Chinese Academy of Agricultural Sciences,Beibei,Chongqing 400712 China;3Guizhou University,Guiyang,Guizhou 550025 China)

【机构】 西南大学贵州大学中国农业科学院柑桔研究所

【摘要】 从乙烯处理的伏令夏橙果实离层中克隆出4个伤害诱导基因(CsWIP1、CsWIP2、CsWIP3、CsWIP4)。通过RT-PCR、RACE等克隆技术分别获得了CsWIP1、CsWIP2、CsWIP3和CsWIP4的全长cDNA。测序结果表明CsWIP1、CsWIP2、CsWIP3和CsWIP4全长cDNA分别为588、549、412和629bp,开放阅读框分别编码98、95、83和88个氨基酸,结构模拟显示这些蛋白在C-端和N-端各有一个α-螺旋,中间是一个富丝氨酸域。与其他植物伤害诱导蛋白序列比对结果显示,CsWIP家族蛋白分为2类,CsWIP1、CsWIP2和CsWIP3与玉米WIP家族中NP001148450.1、NP001151919.1、NP001151459.1、NP001147041.1和拟南芥NP192765.1、NP849355.1、NP179023.1聚成一类;CsWIP4与葡萄的AY159560.1聚成一类。通过实时定量PCR检测这些基因在乙烯处理下果实离层中的表达情况,结果显示CsWIP1和CsWIP2受乙烯强烈诱导,CsWIP3和CsWIP4几乎不受乙烯调控。

【关键词】 夏橙伤害诱导蛋白基因家族克隆乙烯诱导
【基金】 重庆市科技攻关计划项目(CSTC,2007AA1018);国家柑橘产业技术体系支持项目
【所属期刊栏目】 研究论文 (2010年06期)
  • 【DOI】10.13925/j.cnki.gsxb.2010.06.022
  • 【分类号】S666
  • 【被引频次】3
  • 【下载频次】165
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