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40 Gbit/s PIN/TIA组件光纤耦合分析与实验研究

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【作者】 宿志成刘兴瑶张学军丁国庆

【Author】 SU Zhicheng,LIU Xingyao,ZHANG Xuejun,DING Guoqing(Wuhan Telecommunication Devices Co.,Ltd.,Wuhan 430074,China)

【机构】 武汉电信器件公司武汉电信器件公司 湖北武汉430074湖北武汉430074

【摘要】 文章对40 Gb it/s PIN/TIA组件的光纤耦合进行了理论分析,并进行了一些实验研究。通过使用紫外胶和精细固化方法,进行了光纤耦合固定,使得40 Gb it/s PIN/TIA组件灵敏度达到国内领先水平。经测试,40 Gb it/s PIN光纤精细对准后的响应度可达0.65 A/W,耦合固定后的光响应度超过0.46 A/W。

【基金】 国家“十五”科技攻关基金资助项目(QD-7.3-04)
  • 【DOI】10.13756/j.gtxyj.2006.03.016
  • 【分类号】TN818
  • 【被引频次】1
  • 【下载频次】132
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