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连续升温电导法测定小麦叶片胞质稳定性的拐点求证方法比较与分析

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【作者】 王雪征陈淑萍茜晓哲庞建周曹彩云

【Author】 WANG Xue-zheng,CHEN Shu-ping,QIAN Xiao-zhe,PANG Jian-zhou,CAO Cai-yun(Key Laboratory of Crops Drought Resistance of Hebei,Institute of Dry Farming,Hebei Academy of Agriculture and Forestry Sciences,Hengshui 053000,China)

【机构】 河北省农作物抗旱研究重点实验室,河北省农林科学院旱作农业研究所

【摘要】 本研究以A/D转换器完善了连续升温电导法测定冬小麦叶片质膜稳定性的方法。可用2条直线对电解质外渗的数学模型描述:拐点前基本无电解质渗漏,其电导率的升高与电导率-温度系数有关,拐点后到80℃前也为直线,2条直线的交点为拐点温度。无胁迫条件下冬小麦的叶片变性温度与其抗旱性有一定关联,总趋势是变性温度越低,抗旱性越强;水分胁迫条件下叶片质膜变性温度与抗旱性的关系不确定。因本研究所用材料数量有限,抗旱性差异不很大,在现有条件下,变性温度还不足以成为冬小麦抗旱性鉴别的依据。

【基金】 河北省应用基础研究计划重点基础研究项目(09965508D)
【所属期刊栏目】 农业基础科学与方法 (2012年02期)
  • 【DOI】10.16318/j.cnki.hbnykx.2012.02.026
  • 【分类号】S512.11
  • 【下载频次】32
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