文献知网节
  • 记笔记

X射线荧光光谱法测定硅片中锑、砷、磷

于磊胡芳菲宋永清

国标(北京)检验认证有限公司

摘要:利用X射线荧光光谱法直接测定硅片中锑、砷、磷三个主要元素,选择化学法标定的硅片作为标准,通过仪器绘制标准曲线,计算各元素的检出限及各元素的精密度。用电感耦合等离子体光谱法定量分析三个元素,将两种方法的结果进行比对,所得结果基本一致。因此,通过仪器法和化学法的比较,表明该法与常规化学分析相比,具有简便、成本低、分析速度快,准确等优点。
  • DOI:

    10.19500/j.cnki.0367-6358.20180602

  • 专辑:

    理工B(化学化工冶金环境矿业)

  • 专题:

    化学

  • 分类号:

    O657.34;O613.72

  • 手机阅读
    即刻使用手机阅读
    第一步

    扫描二维码下载

    "移动知网-全球学术快报"客户端

    第二步

    打开“全球学术快报”

    点击首页左上角的扫描图标

    第三步

    扫描二维码

    手机同步阅读本篇文献

  • HTML阅读
  • CAJ下载
  • PDF下载

下载手机APP用APP扫此码同步阅读该篇文章

下载:95 页码:795-798 页数:4 大小:360K

相关推荐
  • 相似文献
  • 读者推荐
  • 相关基金文献
  • 关联作者
  • 相关视频