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粉末压片-X射线荧光光谱法测定石墨中的杂质组分

杨峰郭家泽刘伟洪

中国人民武装警察部队黄金第九支队

摘要:采用了非破坏性、无需化学消解试样的固体粉末压片-X射线荧光光谱法测定石墨中8种杂质组分SiO2、Al2O3、Fe2O3、CaO、MgO、MnO、P2O5、TiO2的质量分数。使用国家标准物质(GBW03118-03120,ZBM150-154)建立了校准曲线,优化了粉末压片制样条件。测定石墨标准物质各组分的相对标准偏差(RSD)在0.8%~4.86%之间,测定值与标准值相符,且与电感耦合等离子发射光谱的对比测定结果一致。
  • DOI:

    10.19500/j.cnki.0367-6358.20180808

  • 专辑:

    理工B(化学化工冶金环境矿业)

  • 专题:

    化学; 无机化工

  • 分类号:

    O657.34;TQ127.11

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