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基于ROI的银触点模板匹配缺陷的检测法

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【作者】 刘好洁杨建玺赵远方白连胜

【Author】 LIU Hao-jie;YANG Jian-xi;ZHAO Yuan-fang;BAI Lian-sheng;School of Mechatronics Engineering,He’nan University of Science and Technology;

【机构】 河南科技大学机电工程学院

【摘要】 银触点广泛应用于各种电子元器件中,其表面要求覆盖银层完整光亮,但在生产中表面会出现多种缺陷难以检测而影响使用。为保证其出厂的零缺陷,提出了基于ROI的银触点模板匹配缺陷检测方法。通过对图像进行形态学处理,保证了整张图像的低噪声,根据银触点的表面外形特征,优化了模板匹配的搜索路径,实现了自动选取目标。凸包运算后准确做出圆形区域的最小外接矩形ROI,通过位址映射求出最小外接矩形的位置,得到信息完整的原图ROI。将模板ROI与实时ROI进行去均值归一化相关匹配,计算两幅图像的相似度。通过大量实验得出合格约束相似度,对比人工分拣与机器视觉ROI模板匹配的分拣误差,得出基于ROI的银触点模板匹配缺陷检测方法,符合银触点的出厂要求。

【关键词】 ROI模板匹配搜索相似度
【基金】 河南省科技攻关计划(162102210048);河南省高性能轴承技术重点实验室开发基金项目(2016ZCKF02);企业合作项目资助
【所属期刊栏目】 数字化设计与制造 (2020年02期)
  • 【DOI】10.19356/j.cnki.1001-3997.2020.02.048
  • 【分类号】TP391.41;TQ317
  • 【下载频次】2
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