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软硬件测试的一致性

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【作者】 刘穆进徐拾义

【Author】 LIU Mu-jin,XU Shi-yi (School of Computer Engineering and Science,Shanghai University,Shanghai 200072,China)

【机构】 上海大学计算机工程与科学学院上海大学计算机工程与科学学院 上海200072上海200072

【摘要】 讨论了软硬件测试的一致性 ,列举了软硬件测试中相似的测试方法 ,最后基于一致性的概念并借助硬件可测性设计BIST(build -in -self-test)技术提出一种新的软件可测性方法 ,称为BISTSDFT(softwaredesign -for-testability) .BISTSDFT为软件开发人员和测试人员提供了信息交流的桥梁 .

【基金】 国家自然科学基金资助项目 ( 6 98730 30 ;6 0 1730 2 9)
  • 【分类号】TP311.56
  • 【被引频次】18
  • 【下载频次】184
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