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一款通用CPU的存储器内建自测试设计

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【作者】 何蓉晖李华伟李晓维宫云战

【Author】 HE Rong-hui, LI Hua-wei, LI Xiao-wei, GONG Yun-zhan(Institute of Computing Technology,Chinese Academy of Sciences,Beijing 100080,China)

【机构】 中国科学院计算技术研究所中国科学院计算技术研究所 北京100080北京100080北京100080

【摘要】 存储器内建自测试 (memorybuilt-inself-test,MBIST)是一种有效的测试嵌入式存储器的方法 .在一款通用CPU芯片的可测性设计 (design -for-testability ,DFT)中 ,MBIST作为cache和TLB的存储器测试解决方案被采用 ,以简化对布局分散、大小不同的双端口SRAM的测试 .5个独立的BIST控制器在同一外部信号BistMode的控制下并行工作 ,测试结果由扫描链输出 ,使得测试时间和芯片引脚开销都降到最小 .所采用的march 13n算法确保了对固定型故障、跳变故障、地址译码故障和读写电路的开路故障均达到 10 0 %的故障覆盖率 .

【基金】 国家“8 6 3”高技术研究发展计划重点资助项目 ( 2 0 0 1AA11110 0 ) ;国家自然科学基金资助项目 ( 6 9976 0 0 2 )
  • 【分类号】TP332
  • 【被引频次】24
  • 【下载频次】249
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