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FAN算法在瞬态电流测试产生中的应用

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【作者】 魏小芬邝继顺

【Author】 WEI Xiao-fen,KUANG Ji-shun (College of Computer and Communications,Hunan University,Changsha 410082,China)

【机构】 湖南大学计算机与通信学院湖南大学计算机与通信学院 湖南长沙410082湖南长沙410082

【摘要】 在不考虑冒险的情况下 ,对于CMOS电路中的开路故障 ,探讨了利用FAN算法进行瞬态电流测试产生的可能性 .定义了三种不同的D前沿 ,并将测试产生分为激活故障、使无故障电路和故障电路的瞬态电流差别最大化、减少旁路的影响三个部分 .实验结果说明 ,在不考虑冒险的情况下 ,将FAN算法应用于瞬态电流测试产生是可行的 .

【基金】 国家自然科学基金资助项目 ( 6 0 1730 42 )
  • 【分类号】TN432
  • 【被引频次】22
  • 【下载频次】73
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