节点文献

SoC的可测试性设计技术

免费订阅

【作者】 王永生肖立伊毛志刚叶以正

【Author】 WANG Yong-sheng,XIAO Li-yi,MAO Zhi-gang,YE Yi-zheng (Microelectronics Center,Harbin Institute of Technology,Harbin 150001,China)

【机构】 哈尔滨工业大学微电子中心哈尔滨工业大学微电子中心 黑龙江哈尔滨150001黑龙江哈尔滨150001黑龙江哈尔滨150001

【摘要】 基于可复用的嵌入式IP(intellectualproperty)模块的系统级芯片 (SoC)设计方法使测试面临新的挑战 ,需要研究开发新的测试方法和策略 .结合系统级芯片的可测试性设计技术所面临的技术难点 ,详细介绍了当前系统级芯片的可测试性设计技术 ,分析了各种系统级芯片的可测试性设计技术的特点及其优缺点 ,着重讨论了国际工业界内针对系统级芯片测试的方案 :IEEEP15 0 0和虚拟插座接口联盟 (VSIA)测试访问结构 .

  • 【分类号】TN406
  • 【被引频次】17
  • 【下载频次】321
节点文献中: 

本文链接的文献网络图示:

浏览历史:
下载历史: