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针刺对暂时性脑缺血脑内一氧化氮合酶及神经细胞死亡的影响

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【作者】 董裕李荣程介士

【Author】 Dong Yu, Li Rong, Cheng Jieshi (National Laboratory of Medical Neurobiology,Institute of Acupuncture Research,Shanghai Medical University,Shanghai,200032)

【机构】 上海医科大学针刺原理研究所!医学神经生物学国家重点实验室上海200032

【摘要】 采用暂时性脑缺血再灌注模型和组织化学、TUNEL细胞标记等实验技术 ,观察神经细胞死亡和一氧化氮合酶 (NitricOxideSynthase,NOS)水平的变化。实验结果表明 ,暂时性脑缺血再灌注时脑内NOS表达显著增加 ,且引起延迟性细胞死亡 ,包括坏死与凋亡。电针可明显减少神经细胞坏死 ,在存活细胞增多的基础上 ,TUNEL阳性细胞的比例有所增加 ;与此同时 ,电针亦使脑内NOS表达显著减弱。提示电针具有神经保护作用 ,且可能与其下调NOS、减少NO的过量生成有关

【基金】 国家自然科学基金! (No.39730 5 10 )
  • 【DOI】10.13702/j.1000-0607.2000.01.002
  • 【分类号】R246
  • 【被引频次】95
  • 【下载频次】98
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