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基于图像处理的石英晶片定位技术研究

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【作者】 安宝健王艳林李东

【Author】 AN Bao-jian;WANG Yan-lin;LI Dong;Institute of Instrument Science and Optoelectronics Engineering,Beijing Information Science & Technology University;

【机构】 北京信息科技大学仪器科学与光电工程学院

【摘要】 为了实现自动测量石英晶片的频率等相关参数并进行分档,研究了石英晶片的图像定位技术,主要利用图像处理技术对采集的图像进行图像二值化、边缘检测、轮廓提取等处理,完成对石英晶片中心的定位。经验证,该石英晶片定位技术能够在保证系统要求的石英晶片分选速度的前提下实现石英晶片的准确定位。

【关键词】 石英晶片定位技术图像处理自动分选
【基金】 机电系统测控北京市重点实验室开放项目:石英晶片外观缺陷检测技术研究(5231423200)
【所属期刊栏目】 测试·测量·自动化_自动化技术 (2015年01期)
  • 【DOI】10.16652/j.issn.1004-373x.2015.01.043
  • 【分类号】TP391.41
  • 【被引频次】1
  • 【下载频次】51
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