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一种基于JTAG的片内调试系统设计

姚霁

西安邮电大学

摘要:为了给芯片设计提供一种高效方便的调试方法,提出一种基于JTAG的片内调试系统。该系统包括调试系统控制模块、断点产生模块和JTAG接口。JTAG接口实现调试指令的发送与接收;断点产生模块是调试系统硬件调试的逻辑单元;调试系统控制模块则实现断点设置、单步运行、内存调试等功能。不同的调试指令可根据不同的硬件结构自动完成其各自的处理流程,而且不同的工作模式之间可以自由切换。该片内调试系统表现出了高性能,便于操作的特点,已经通过了实际的芯片测试。
  • DOI:

    10.16652/j.issn.1004-373x.2020.20.008

  • 专辑:

    电子技术及信息科学

  • 专题:

    无线电电子学

  • 分类号:

    TN407

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