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高纯钨的制备及粒度影响研究

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【作者】 郑艾龙吴传露杨益航黄志民陈俊卿叶铭海

【Author】 ZHENG Ailong;WU Chuanlu;YANG Yihang;HUANG Zhimin;CHEN Junqing;YE Minghai;W & Mo Component Business, Xiamen Honglu Tungsten Molybdenum Industry Co.Ltd.;School of Materials Science and Engineering, Xiamen University of Technology;

【机构】 厦门虹鹭钨钼工业有限公司钨钼制品事业部厦门理工学院材料科学与工程学院

【摘要】 高纯钨在高端电子工业等领域有着广泛的需求,纯度越高其附加值也越高。试验以H2还原高纯仲钨酸铵(APT)制备高纯钨粉及制品,研究了还原介质、制备工艺对钨粉纯度及粉末粒度的影响。采用费氏法(FSSS)粒度、扫描电镜(SEM)、辉光放电质谱法(GDMS)等对高纯钨粉微观形貌及杂质含量等进行分析。研究结果表明,温度800℃/870℃/930℃/980℃,推舟时间40 min,H2流量38L/min,装舟量200 g工艺条件下,制得了粒径1.7μm的钨粉,纯度达99.999%以上,并且制备出的高纯钨制品力学性能表现良好。

【关键词】 高纯钨粉氢还原粒度钨制品
【基金】 国家重点研发项目(2017YFB0305400)
【所属期刊栏目】 冶金·材料 (2019年06期)
  • 【分类号】TF841.1
  • 【下载频次】18
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