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微区能量色散X荧光元素成像法测定陶瓷中重金属元素

陈朝方许彩芸彭彬徐泽伍利兵李杰

珠海出入境检验检疫局技术中心

摘要:目的采用微区能量色散X荧光光谱仪(μ-EDXRF)研究陶瓷釉料的变化和铅、镉等重金属溶出的风险以评估产品的质量安全。方法采用μ-EDXRF元素扫描成像新技术,分析釉层有害金属元素的分布,并用无标样基本参数(FP)法测定釉层主成分和高风险区域有害元素的含量。结果μ-EDXRF能快速进行多元素同时分析,可以及时发现釉层中钴、铬、锰、镍等具有潜在析出风险的重金属元素。该元素成像技术能直观地找出有害元素存在的部位,方便迅速分析产品缺陷的原因。结论该方法从一个新的角度来评价陶瓷釉层重金属元素含量及分布,是已有分析手段的一个有力补充。
  • DOI:

    10.19812/j.cnki.jfsq11-5956/ts.2013.04.016

  • 专辑:

    理工B(化学化工冶金环境矿业)

  • 专题:

    化学; 无机化工

  • 分类号:

    TQ174.1;O657.34

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