摘要：计算了几种典型的接地方式下卫星介质构件中深层充电所致的最大电场及表面电位 ,并进行比较分析 .结果表明 ,在同样的辐射环境条件下 ,正面接地及两面同时接地时平板介质构件中最大电场比背面接地时低一个量级以上 ,因此前两种接地方式中介质相对较安全 ;单面接地时被充电介质与相邻金属部件或接地物体之间存在放电的可能 ,而两面同时接地时则不会发生 .
- 专辑：
理工A(数学物理力学天地生); 理工C(机电航空交通水利建筑能源)
- 专题：
航空航天科学与工程
- 分类号：
V419
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