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纯钨中14种杂质元素的发射光谱分析

王梅芳

兵器工业部第五二研究所

摘要:<正> 一、前 言 随着国防科研的飞跃发展,纯钨中有害杂质元素的分析已成为我们日常检验中一项重要任务。测定纯钨中杂质元素方法很多,其中以光谱载体分馏法为主。实验证明,钨配样品中如果不加入载体而只与碳粉混合,则易挥发的钨酐在弧烧过程中转变为难挥发的WC和W2C形式,同时被测杂质元素也能形成难挥发的碳化物,致使被测元素谱线强度极其微弱,所以必须选择合适的载体,使钨酐在弧烧过程中转变为难挥发的碳化物,
  • DOI:

    10.14024/j.cnki.1004-244x.1985.02.010

  • 专辑:

    理工B(化学化工冶金环境矿业); 理工C(机电航空交通水利建筑能源)

  • 专题:

    金属学及金属工艺

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